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ballbet体育:什么是 XRF光谱分析技术?

更新时间: 来源:ballbet西甲 作者:ballbet官网 点击:1 所属栏目:行业动态 Update Time: Hits:2 Belong Column:News

  XRF(X 射线荧光)是一种用于测定材料中元素组成的无损分析技术。XRF 技术通过分析可样品由一级 X 射线源激发而散射出的荧光(或二级)X 射线,来确定样品的化学属性。样品中的每一种元素受激发后都会产生一组特定独特的荧光 X 射线(“指纹”),因此对于材料化学成分定量及定性分析而言,XRF 光谱法是一种非常好的技术。

  当样品中的某个原子被能量充足(大于原子的 K 或 L 壳层结合能)的 X 射线撞击时,就会从原子的一个内轨道壳层中逐出一个电子。

  电子通过释放荧光 X 射线降至较低能量状态。该 X 射线的能量等于电子两个量子态之间的特定能量差。这种能量的测量是 XRF 分析的基础。

  大多数原子都有几个电子轨道(例如 K 壳层、L 壳层、M 壳层)。当 X 射线能量导致电子进出这些壳层时,会产生强度不同的 XRF 峰,并且将以图表形式在光谱中显示 X 射线强度峰与能量峰的函数关系。峰能量用于识别元素,峰高度/强度通常表示其浓度。

  EDXRF 是便携式 X 射线荧光分析仪中常用的技术。EDXRF 设计用于同时分析多组元素,以便快速测定样品中的相应元素及其相对浓度,换句话说,即样品的元素化学成分。

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